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测试设备
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PCT老化箱（又称PCT高压加速老化试验机）主要用于测试半导体封装的水分容量。待测产品在严酷的温度、湿度和压力下进行测试。水分会沿着胶体或胶体与金属丝流动。框架接口穿入封装体，常见的故障模式是有源金属化区域腐蚀导致开路，或封装体引脚间污染导致短路等。
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复合盐雾试验箱在加速腐蚀试验中最接近实际自然条件。模拟自然环境中常见的条件：如盐雾、热风干燥、加湿、低温等，并可循环进行试验。测试中，主要测试对象用于变化剧烈的环境，如：汽车零部件、航空设备、建材、涂膜、电机等。
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