23
2023
-
05
UHAST与bast在高压加速老化试验箱中的区别
HAST(高加速温湿度压力试验)是一种基于温度和湿度的高加速电子元件可靠性试验方法。HAST高加速老化试验在塑料密封器件中起着重要的作用，它加速了基于温度和湿度的新型集成电路的失效，加快了塑料密封器件的发展和应用。
高加速老化试验分为UHAST试验和BHAST试验。两者的区别是什么?Comin会解释的。
UHAST与bast的区别:
UHAST试验:指无偏温、无高加速度应力的温湿度试验。它用于确定部件在高温、高湿条件下的可靠性，不偏压部件。
参考标准:JESD22-A118
BHAST试验:是指温湿度偏置和高加速度应力试验，使设备处于高温、高湿条件下，同时处于偏置下，其目的是加速设备的腐蚀。
参考标准:JESD22-A110
UHAST和bast测试条件:
温度、湿度、气压、测试时间
◎130℃，85%RH, 230KPa大气压，96小时试验时间。
◎在测试过程中，建议在调试阶段通过监控芯片外壳温度和功耗数据来计算芯片结温，并保证结温不会过高，并在测试过程中定期记录。结温计算方法参照HTOL试验技术规范。
◎若壳温与环温差或功耗满足以下三种关系，特别是壳温与环温差超过10℃时，应考虑采用周期性电压拉拔策略。
◎注意环境条件达到规定条件后计算试验开始时间;结束时间是冷却和降压操作开始的时间点。
电压偏差——
UHAST测试没有偏见，不需要关注以下原则。
BHAST必须有偏见，并遵循以下原则:
◎接通所有电源，电压:推荐最大工作范围电压。
◎芯片和材料的功耗最小(数字部分不翻转，输入晶体短路，其他功耗降低方法)。
◎输入引脚应在输入电压允许范围内升高。
◎其它引脚，如时钟端、复位端、输出引脚，在输出范围内随机上下拉。
微信
